在半導體設計公司或封測廠面臨多源測試數(shù)據(jù)難以統(tǒng)一管理的挑戰(zhàn)時，YMS良率管理系統(tǒng)提供了一套端到端的解決方案。系統(tǒng)自動對接ETS88、93k、J750、Chroma、STS8200、TR6850等主流Tester平臺，采集stdf、csv、xls、spd、jdf、log、zip、txt等多種格式原始數(shù)據(jù)，并完成重復性檢測、缺失值識別與異常過濾，確保分析基礎可靠。通過標準化數(shù)據(jù)庫對數(shù)據(jù)統(tǒng)一分類，企業(yè)可從時間維度追蹤良率趨勢，或聚焦晶圓特定區(qū)域?qū)Ρ热毕莘植?，快速定位工藝異常。結(jié)合WAT、CP與FT參數(shù)的聯(lián)動分析，進一步揭示影響良率的根本原因。SYL與SBL的自動計算與卡控機制強化了過程質(zhì)量防線，而靈活的報表工具支持按模板生成日報、周報、月報，并導出為PPT、Excel或PDF格式，滿足跨層級決策需求。上海偉諾信息科技有限公司自2019年成立以來，持續(xù)打磨YMS系統(tǒng)，助力客戶構(gòu)建自主可控的良率管理能力。上海偉諾信息科技DPAT功能，通過結(jié)合測試數(shù)據(jù)去除超出規(guī)范的芯片并生成新的Mapping。上海GDBC

面對半導體生產(chǎn)現(xiàn)場，車間良率管理系統(tǒng)實現(xiàn)了對制造過程的實時洞察與動態(tài)調(diào)控。系統(tǒng)自動匯聚來自各類測試設備的原始數(shù)據(jù)，經(jīng)智能解析后形成結(jié)構(gòu)化數(shù)據(jù)庫，支撐對各工序、各時段良率表現(xiàn)的即時追蹤。管理者可通過可視化圖表快速識別產(chǎn)線瓶頸、異常波動或區(qū)域性缺陷，及時干預以減少損失。系統(tǒng)不僅支持按需生成標準化報告，還可導出多種格式，適配車間操作與高層管理的不同使用場景。這種數(shù)據(jù)透明化機制，明顯提升了生產(chǎn)過程的可控性與響應速度。上海偉諾信息科技有限公司憑借對半導體制造流程的深刻理解，將YMS打造為連接設備數(shù)據(jù)與管理決策的高效橋梁。上海可視化MappingOverInk處理Mapping Over Ink數(shù)據(jù)處理流程全程自動化運行，大幅減少人工復核的人為干預。

YMS（良率管理系統(tǒng)）的本質(zhì)是將海量測試數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為精確的質(zhì)量決策依據(jù)。系統(tǒng)兼容ETS88、J750、ASL1000、Chroma等主流Tester設備，自動解析stdf、csv、log、jdf等多種格式數(shù)據(jù)，完成端到端的數(shù)據(jù)治理。在此基礎上，通過標準化數(shù)據(jù)庫實現(xiàn)時間序列追蹤與晶圓區(qū)域?qū)Ρ龋绨l(fā)現(xiàn)某批次中心區(qū)域缺陷密度突增，可聯(lián)動WAT參數(shù)判斷是否為離子注入劑量漂移所致。SYL與SBL的自動計算功能為良率目標達成提供量化基準，而靈活報表工具支持一鍵導出PPT、Excel或PDF格式報告，減少手工整理負擔。這種從原始數(shù)據(jù)到管理行動的無縫銜接，極大提升了質(zhì)量團隊的工作效能。上海偉諾信息科技有限公司專注于半導體行業(yè)軟件研發(fā)，確保YMS功能緊貼實際生產(chǎn)需求。

半導體設計公司對良率分析的顆粒度要求極高，需兼顧芯片級精度與跨項目可比性。YMS系統(tǒng)支持接入Juno、AMIDA、CTA8280、T861、SineTest等平臺產(chǎn)生的多格式測試數(shù)據(jù)，完成統(tǒng)一解析與結(jié)構(gòu)化存儲，確保從晶圓到單顆芯片的數(shù)據(jù)鏈完整。系統(tǒng)不僅實現(xiàn)時間趨勢與區(qū)域?qū)Ρ确治?，還能通過WAT參數(shù)漂移預警潛在設計風險，輔助早期迭代優(yōu)化。SYL與SBL的自動計算功能，為良率目標達成提供量化依據(jù)；靈活報表引擎則支持按項目、產(chǎn)品線或客戶維度生成分析簡報，并導出為PPT、Excel或PDF，適配不同匯報場景。這種深度集成的能力，使良率管理從被動響應轉(zhuǎn)向主動預防。上海偉諾信息科技有限公司以“以信為本，以質(zhì)取勝”為準則，持續(xù)打磨YMS的功能完整性與行業(yè)適配性。GDBC算法識別的聚類區(qū)域常指向設備或掩模問題，反饋工藝優(yōu)化方向。

良率波動若只憑單點數(shù)據(jù)判斷，容易誤判趨勢。YMS系統(tǒng)將每日、每周、每月的測試結(jié)果按時間序列歸檔，生成連續(xù)良率曲線，并以折線圖、熱力圖等形式直觀呈現(xiàn)變化規(guī)律。當某產(chǎn)品線周良率從98%驟降至95%時，系統(tǒng)不僅高亮異常區(qū)間，還可聯(lián)動同期WAT參數(shù)漂移或設備維護記錄，輔助判斷是否為工藝變更所致。管理層可按日粒度監(jiān)控關(guān)鍵產(chǎn)品，工程師則可深入分析小時級波動以優(yōu)化機臺參數(shù)。這種動態(tài)追蹤能力，使質(zhì)量干預從事后追溯轉(zhuǎn)向事中預警。結(jié)合靈活報表工具，時間維度分析結(jié)果可一鍵導出為PPT或PDF，用于晨會或客戶匯報。上海偉諾信息科技有限公司通過YMS的時間序列分析功能，助力客戶實現(xiàn)精細化過程管控。工藝波動引發(fā)的微小偏移通過PAT統(tǒng)計模型精確捕捉，實現(xiàn)早期預警。上海GDBC

Mapping Over Ink處理減少人工復核負擔，提升質(zhì)量控制效率。上海GDBC

在半導體制造中，由于Fab制程的物理與化學特性，晶圓邊緣的芯片（Edge Die）其失效率明顯高于中心區(qū)域。這一現(xiàn)象主要源于幾個關(guān)鍵因素：首先，在光刻、刻蝕、薄膜沉積等工藝中，晶圓邊緣的反應氣體流場、溫度場及壓力場分布不均，導致工藝一致性變差；其次，邊緣區(qū)域更容易出現(xiàn)厚度不均、殘留應力集中等問題；此外，光刻膠在邊緣的涂覆均勻性也通常較差。這些因素共同導致邊緣芯片的電氣參數(shù)漂移、性能不穩(wěn)定乃至早期失效風險急劇升高。因此，在晶圓測試（CP）的制造流程中，對電性測試圖譜（Wafer Mapping）執(zhí)行“去邊”操作，便成為一項提升產(chǎn)品整體良率與可靠性的關(guān)鍵步驟。
上海偉諾信息科技有限公司Mapping Over Ink功能中的Margin Map功能提供多種算法與自定義圈數(shù)，滿足客戶快速高效低剔除邊緣芯片，可以從根本上避免后續(xù)對這些潛在不良品進行不必要的封裝和測試，從而直接節(jié)約成本，并確保出廠產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性要求。上海GDBC

上海偉諾信息科技有限公司是一家有著先進的發(fā)展理念，先進的管理經(jīng)驗，在發(fā)展過程中不斷完善自己，要求自己，不斷創(chuàng)新，時刻準備著迎接更多挑戰(zhàn)的活力公司，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中匯聚了大量的人脈以及客戶資源，在業(yè)界也收獲了很多良好的評價，這些都源自于自身的努力和大家共同進步的結(jié)果，這些評價對我們而言是**好的前進動力，也促使我們在以后的道路上保持奮發(fā)圖強、一往無前的進取創(chuàng)新精神，努力把公司發(fā)展戰(zhàn)略推向一個新高度，在全體員工共同努力之下，全力拼搏將共同和您一起攜手走向更好的未來，創(chuàng)造更有價值的產(chǎn)品，我們將以更好的狀態(tài)，更認真的態(tài)度，更飽滿的精力去創(chuàng)造，去拼搏，去努力，讓我們一起更好更快的成長！