晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動(dòng)直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動(dòng)采集并解析來自主流測(cè)試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實(shí)現(xiàn)對(duì)晶圓批次、區(qū)域乃至單點(diǎn)良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測(cè)試數(shù)據(jù)的變化趨勢(shì)，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢(shì)曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時(shí)，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報(bào)告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。Mapping Over Ink處理提升產(chǎn)品市場(chǎng)競(jìng)爭(zhēng)力，降低客戶投訴率。上海自動(dòng)化PAT

車間管理者需要的是能即時(shí)反映產(chǎn)線狀態(tài)的良率監(jiān)控工具，而非復(fù)雜的數(shù)據(jù)平臺(tái)。YMS車間方案聚焦高頻、高敏場(chǎng)景，自動(dòng)匯聚來自現(xiàn)場(chǎng)Tester設(shè)備的測(cè)試結(jié)果，并實(shí)時(shí)進(jìn)行數(shù)據(jù)清洗與異常過濾，確?？窗逭故镜男畔?zhǔn)確有效。通過標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，系統(tǒng)支持按班次、機(jī)臺(tái)或產(chǎn)品型號(hào)動(dòng)態(tài)呈現(xiàn)良率熱力圖與缺陷分布，幫助班組長(zhǎng)在交接班前快速識(shí)別異常批次。當(dāng)某區(qū)域連續(xù)出現(xiàn)低良率時(shí)，系統(tǒng)可聯(lián)動(dòng)CP與FT數(shù)據(jù)判斷是否為共性工藝問題，并觸發(fā)預(yù)警。日?qǐng)?bào)、周報(bào)自動(dòng)生成并支持多格式導(dǎo)出，減少手工填報(bào)負(fù)擔(dān)。這種“輕部署、快響應(yīng)、強(qiáng)落地”的設(shè)計(jì)思路，使良率管理真正融入日常生產(chǎn)節(jié)奏。上海偉諾信息科技有限公司基于對(duì)封測(cè)工廠運(yùn)作邏輯的深刻洞察，持續(xù)優(yōu)化YMS的車間適用性。上海MappingOverInk處理系統(tǒng)價(jià)格Cluster方法有效定位區(qū)域性異常Die，通過相鄰關(guān)聯(lián)性分析識(shí)別連續(xù)性失效。

半導(dǎo)體測(cè)試是半導(dǎo)體制造過程中質(zhì)量的一道關(guān)鍵防線，扮演著日益關(guān)鍵角色，單純依賴傳統(tǒng)電性測(cè)試的“通過/失敗”界限，已無法滿足對(duì)產(chǎn)品“零缺陷”的追求。為了大力提升測(cè)試覆蓋度，構(gòu)筑更為堅(jiān)固的質(zhì)量防線，采用GDBN技術(shù)來識(shí)別并剔除那些位于“不良環(huán)境”中的高風(fēng)險(xiǎn)芯片，已成為車規(guī)、工規(guī)等類產(chǎn)品不可或缺的必要手段。

細(xì)化需求。

為此，上海偉諾信息科技有限公司為客戶提供了一套包含多重GDBN算法的綜合解決方案，該方案具備高度的靈活性與強(qiáng)大的適應(yīng)性，能夠精確滿足半導(dǎo)體設(shè)計(jì)公司與CP測(cè)試廠對(duì)提升產(chǎn)品可靠性的關(guān)鍵訴求，成為客戶應(yīng)對(duì)高質(zhì)量挑戰(zhàn)的可靠伙伴，共同構(gòu)筑面向未來的半導(dǎo)體質(zhì)量防線。

在半導(dǎo)體制造中，晶圓廠制程的任何微小變動(dòng)，都可能引起良率與可靠性的風(fēng)險(xiǎn)。其中，一個(gè)尤為典型的系統(tǒng)性失效模式，便源于光刻環(huán)節(jié)的Reticle（光罩）。當(dāng)Reticle本身存在污染、劃傷或設(shè)計(jì)瑕疵時(shí)，或當(dāng)光刻機(jī)在步進(jìn)重復(fù)曝光過程中出現(xiàn)參數(shù)漂移（如焦距不準(zhǔn)、曝光能量不均）時(shí)。這些因Reticle問題而產(chǎn)生的特定區(qū)域內(nèi)的芯片，實(shí)質(zhì)上構(gòu)成了一個(gè)高風(fēng)險(xiǎn)的“潛伏失效群體”。若不能在測(cè)試階段被精確識(shí)別并剔除，將直接流向客戶端，對(duì)產(chǎn)品的長(zhǎng)期可靠性與品牌聲譽(yù)構(gòu)成嚴(yán)重威脅。識(shí)別并處理這類與Reticle強(qiáng)相關(guān)的潛在缺陷，是現(xiàn)代高可靠性質(zhì)量管理中一項(xiàng)極具挑戰(zhàn)性的關(guān)鍵任務(wù)。

上海偉諾信息科技有限公司在Mapping Over Ink功能中提供了一個(gè)Shot Mapping Ink方案，可以將整個(gè)Mapping按Reticle大小或是自定義大小的方格，根據(jù)設(shè)定的算法將整個(gè)Shot進(jìn)行Ink, 從而去除掉因光刻環(huán)節(jié)的Reticle引起的潛在性失效芯片。通過Shot Mapping Ink方案，用戶能夠?qū)①|(zhì)量管控的關(guān)口從“篩查單個(gè)失效芯片”前移至“攔截整個(gè)失效風(fēng)險(xiǎn)區(qū)域”。這尤其適用于對(duì)可靠性要求極嚴(yán)苛的車規(guī)、工規(guī)等產(chǎn)品，它能極大程度地降低因光刻制程偶發(fā)問題導(dǎo)致的批次性可靠性風(fēng)險(xiǎn)，為客戶構(gòu)建起一道應(yīng)對(duì)系統(tǒng)性缺陷的堅(jiān)固防線。 上海偉諾信息科技Mapping Over Ink功能，可以將測(cè)試后處理的芯片做降檔處理，降低測(cè)試Cost。

因測(cè)試數(shù)據(jù)錯(cuò)誤導(dǎo)致誤判良率，可能引發(fā)不必要的重測(cè)或錯(cuò)誤工藝調(diào)整，造成材料與時(shí)間雙重浪費(fèi)。YMS在數(shù)據(jù)入庫前執(zhí)行多層校驗(yàn)，自動(dòng)剔除異常記錄，確保進(jìn)入分析環(huán)節(jié)的數(shù)據(jù)真實(shí)反映產(chǎn)品狀態(tài)。例如，當(dāng)某晶圓因通信中斷產(chǎn)生部分缺失數(shù)據(jù)時(shí)，系統(tǒng)會(huì)標(biāo)記該記錄而非直接納入統(tǒng)計(jì)，避免拉低整體良率。結(jié)合WAT、CP、FT參數(shù)的交叉驗(yàn)證，進(jìn)一步排除孤立異常點(diǎn)。高質(zhì)量數(shù)據(jù)輸入使質(zhì)量決策建立在可靠基礎(chǔ)上，明顯降低返工率和報(bào)廢風(fēng)險(xiǎn)。這種前置質(zhì)量控制機(jī)制，將成本節(jié)約從“事后補(bǔ)救”轉(zhuǎn)向“事前預(yù)防”。上海偉諾信息科技有限公司通過嚴(yán)謹(jǐn)?shù)臄?shù)據(jù)治理邏輯，保障YMS輸出結(jié)果的科學(xué)性與可執(zhí)行性。UPLY處理針對(duì)特定層間關(guān)聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。上海MappingOverInk處理系統(tǒng)價(jià)格

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)提供售前咨詢與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，保障客戶實(shí)施體驗(yàn)。上海自動(dòng)化PAT

為提升晶圓測(cè)試（CP測(cè)試）的質(zhì)量與可靠性，行業(yè)的關(guān)注點(diǎn)已從單一的電性性能測(cè)試，擴(kuò)展到電性與物理外觀并重的綜合質(zhì)量評(píng)估。因此，越來越多的公司在CP測(cè)試環(huán)節(jié)中，引入外觀檢測(cè)設(shè)備（AOI,AutomatedOpticalInspection），對(duì)晶圓上每個(gè)Die的表面進(jìn)行高精度、自動(dòng)化的掃描與檢測(cè)，以識(shí)別并剔除那些存在裂紋、劃痕、污染、崩邊或缺損等物理缺陷的不良品。這種做法的價(jià)值在于，它彌補(bǔ)了傳統(tǒng)電性測(cè)試的盲區(qū)。一顆芯片可能電性參數(shù)測(cè)試“通過”，但其物理結(jié)構(gòu)已存在潛在損傷。這類“帶傷”的芯片在后續(xù)的封裝應(yīng)力或終端應(yīng)用中有極高早期失效的風(fēng)險(xiǎn)，是產(chǎn)品可靠性的重大隱患。通過AOI檢測(cè)，可以在晶圓階段就將這些物理不良品精確攔截。
上海偉諾信息科技有限公司提供專業(yè)的AOI與Probe Mapping堆疊方案，解決兩大關(guān)鍵問題：一是通過數(shù)據(jù)融合，篩除外觀與電性的全部不良品，生成高可靠性的合一Mapping；二是具備優(yōu)異的兼容性，可將合并后的Mapping直接轉(zhuǎn)換為各類探針臺(tái)（如TSK、TEL、UF3000等）可識(shí)別的格式，實(shí)現(xiàn)從質(zhì)量判定到生產(chǎn)執(zhí)行的自動(dòng)化，有效提升品質(zhì)與效率。上海自動(dòng)化PAT

上海偉諾信息科技有限公司匯集了大量的優(yōu)秀人才，集企業(yè)奇思，創(chuàng)經(jīng)濟(jì)奇跡，一群有夢(mèng)想有朝氣的團(tuán)隊(duì)不斷在前進(jìn)的道路上開創(chuàng)新天地，繪畫新藍(lán)圖，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的信譽(yù)，信奉著“爭(zhēng)取每一個(gè)客戶不容易，失去每一個(gè)用戶很簡(jiǎn)單”的理念，市場(chǎng)是企業(yè)的方向，質(zhì)量是企業(yè)的生命，在公司有效方針的領(lǐng)導(dǎo)下，全體上下，團(tuán)結(jié)一致，共同進(jìn)退，齊心協(xié)力把各方面工作做得更好，努力開創(chuàng)工作的新局面，公司的新高度，未來和您一起奔向更美好的未來，即使現(xiàn)在有一點(diǎn)小小的成績(jī)，也不足以驕傲，過去的種種都已成為昨日我們只有總結(jié)經(jīng)驗(yàn)，才能繼續(xù)上路，讓我們一起點(diǎn)燃新的希望，放飛新的夢(mèng)想！