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還可以給這個Bus設(shè)置一個容易區(qū)分的名字,例如把這個Byte改為ByteO,這樣就把 DQ0-DQ7, DM和DQS, DQS與Clock的總線關(guān)系設(shè)置好了。
重復(fù)以上操作,依次創(chuàng)建:DQ8?DQ15、DM1信號;DQS1/NDQS1選通和時鐘 CK/NCK的第2個字節(jié)Bytel,包括DQ16?DQ23、DM2信號;DQS2/NDQS2選通和時鐘 CK/NCK的第3個字節(jié)Byte2,包括DQ24?DQ31、DM3信號;DQS3/NDQS3選通和時鐘 CK/NCK的第4個字節(jié)Byte3。
開始創(chuàng)建地址、命令和控制信號,以及時鐘信號的時序關(guān)系。因為沒有多個Rank, 所以本例將把地址命令信號和控制信號合并仿真分析。操作和步驟2大同小異,首先新建一 個Bus,在Signal Names下選中所有的地址、命令和控制信號,在Timing Ref下選中CK/NCK (注意,不要與一列的Clock混淆,Clock列只對應(yīng)Strobe信號),在Bus Type下拉框中 選擇AddCmd,在Edge Type下拉框中選擇RiseEdge,將Bus Gro叩的名字改為AddCmdo。 DDR3一致性測試是否適用于超頻內(nèi)存模塊?眼圖測試DDR3測試哪里買

單擊Next按鈕,出現(xiàn)Setup Trace Check Wizard窗口,確保網(wǎng)絡(luò)組的所有網(wǎng)絡(luò)都被選中, 單擊Finish按鈕。
單擊Save File with Error Check保存文件,保存結(jié)束后,單擊Start Simulation開始仿 真。仿真完成后,仿真結(jié)果包括Workflow中Results and Report的所有內(nèi)容。如果在Setup Trace Check Parameters 的步驟 net selection 時選的是 check all signal nets 或者 check all enabled signal nets 模式,那么仿真結(jié)果只有 Net Impedance Summary 和 Net Co叩ling Summaryo
單擊Net Impedance Summary,出現(xiàn)阻抗總結(jié)表格,包括網(wǎng)絡(luò)序號、網(wǎng)絡(luò)名稱、無參 考平面的走線數(shù)目、回流不連續(xù)的走線數(shù)目、過孔數(shù)目、比較大阻抗值、小阻抗值、主導(dǎo)阻 抗值、主導(dǎo)阻抗走線長度百分比、走線總長度、走線延時。 廣東DDR3測試方案商如何解決DDR3一致性測試期間出現(xiàn)的錯誤?

DDR(Double Data Rate)是一種常見的動態(tài)隨機存取存儲器(DRAM)標準。以下是對DDR規(guī)范的一些解讀:DDR速度等級:DDR規(guī)范中定義了不同的速度等級,如DDR-200、DDR-400、DDR2-800、DDR3-1600等。這些速度等級表示內(nèi)存模塊的速度和帶寬,通常以頻率來表示(例如DDR2-800表示時鐘頻率為800 MHz)。數(shù)據(jù)傳輸方式:DDR采用雙倍數(shù)據(jù)傳輸率,即在每個時鐘周期內(nèi)進行兩次數(shù)據(jù)傳輸,相比于單倍數(shù)據(jù)傳輸率(SDR),DDR具有更高的帶寬。時序要求:DDR規(guī)范定義了內(nèi)存模塊的各種時序要求,包括初始時序、數(shù)據(jù)傳輸時序、刷新時序等。這些時序要求確保內(nèi)存模塊能夠按照規(guī)范工作,并實現(xiàn)穩(wěn)定的數(shù)據(jù)傳輸和操作。
DDR3一致性測試是一種用于檢查和驗證DDR3內(nèi)存模塊在數(shù)據(jù)操作和傳輸方面一致性的測試方法。通過進行一致性測試,可以確保內(nèi)存模塊在工作過程中能夠按照預(yù)期的方式讀取、寫入和傳輸數(shù)據(jù)。
一致性測試通常涵蓋以下方面:
電氣特性測試:對內(nèi)存模塊的電壓、時鐘頻率、時序等電氣特性進行測試,以確保其符合規(guī)范要求。
讀寫測試:驗證內(nèi)存模塊的讀取和寫入功能是否正常,并確保數(shù)據(jù)的正確性和一致性。
數(shù)據(jù)一致性檢查:通過檢查讀取的數(shù)據(jù)與預(yù)期的數(shù)據(jù)是否一致來驗證內(nèi)存模塊的數(shù)據(jù)傳輸準確性。
時序一致性測試:確認內(nèi)存模塊的時序設(shè)置是否正確,并檢查內(nèi)存模塊對不同命令和操作的響應(yīng)是否符合規(guī)范。
并發(fā)訪問測試:測試內(nèi)存模塊在并發(fā)訪問和多任務(wù)環(huán)境下的性能和穩(wěn)定性。
一致性測試有助于檢測潛在的內(nèi)存問題,如數(shù)據(jù)傳輸錯誤、時序不一致、并發(fā)訪問等,以確保內(nèi)存模塊在計算機系統(tǒng)中的正常運行。這種測試可以提高系統(tǒng)的穩(wěn)定性、可靠性,并減少不一致性可能帶來的數(shù)據(jù)損壞或系統(tǒng)故障。 在DDR3一致性測試期間能否繼續(xù)進行其他任務(wù)?

DDRhDDRl釆用SSTL_2接口,1/0 口工作電壓為2.5V;時鐘信號頻率為100?200MHz; 數(shù)據(jù)信號速率為200?400 Mbps,通過單端選通信號雙邊沿釆樣;地址/命令/控制信號速率為 100?200Mbps,通過時鐘信號上升沿采樣;信號走線都使用樹形拓撲,沒有ODT功能。
DDR2: DDR2釆用SSTL_18接口,I/O 口工作電壓為1.8V;時鐘信號頻率為200? 400MHz;數(shù)據(jù)信號速率為400?800Mbps,在低速率下可選擇使用單端選通信號,但在高速 率時需使用差分選通信號以保證釆樣的準確性;地址/命令/控制信號在每個時鐘上升沿釆樣的 情況下(1T模式)速率為200?400Mbps,在每個間隔時鐘上升沿釆樣的情況下(2T模式) 速率減半;信號走線也都使用樹形拓撲,數(shù)據(jù)和選通信號有ODT功能。 進行DDR3一致性測試時如何準備備用內(nèi)存模塊?眼圖測試DDR3測試哪里買
DDR3一致性測試是否需要經(jīng)常進行?眼圖測試DDR3測試哪里買
DDR3(Double Data Rate 3)是一種常見的動態(tài)隨機存取存儲器(DRAM)標準,它定義了數(shù)據(jù)傳輸和操作時的時序要求。以下是DDR3規(guī)范中常見的時序要求:
初始時序(Initialization Timing)tRFC:內(nèi)存行刷新周期,表示在關(guān)閉時需要等待多久才能開啟并訪問一個新的內(nèi)存行。tRP/tRCD/tRA:行預(yù)充電時間、行開放時間和行訪問時間,分別表示在執(zhí)行讀或?qū)懖僮髦靶枰A(yù)充電的短時間、行打開后需要等待的短時間以及行訪問的持續(xù)時間。tWR:寫入恢復(fù)時間,表示每次寫操作之間小需要等待的時間。數(shù)據(jù)傳輸時序(Data Transfer Timing)tDQSS:數(shù)據(jù)到期間延遲,表示內(nèi)存控制器在發(fā)出命令后應(yīng)該等待多長時間直到數(shù)據(jù)可用。tDQSCK:數(shù)據(jù)到時鐘延遲,表示從數(shù)據(jù)到達內(nèi)存控制器到時鐘信號的延遲。tWTR/tRTW:不同內(nèi)存模塊之間傳輸數(shù)據(jù)所需的小時間,包括列之間的轉(zhuǎn)換和行之間的轉(zhuǎn)換。tCL:CAS延遲,即列訪問延遲,表示從命令到讀或?qū)懖僮鞯挠行?shù)據(jù)出現(xiàn)之間的延遲。刷新時序(Refresh Timing)tRFC:內(nèi)存行刷新周期,表示多少時間需要刷新一次內(nèi)存行。 眼圖測試DDR3測試哪里買