ZPAT 是一種基于統(tǒng)計學(xué)的芯片篩選技術(shù)，通過在晶圓測試階段識別并剔除具有潛在缺陷的芯片，從而提升產(chǎn)品的可靠性。在實際的應(yīng)用過程中需要通過疊加多片Wafer找出在同一坐標(biāo)下失效的Die的比例，通過特定的算法從而評估其他未失效的Die存在的潛在失效的概率。也是提升芯片質(zhì)量零缺陷的一種手段。

為助力客戶應(yīng)對日益嚴(yán)苛的“零缺陷”質(zhì)量挑戰(zhàn)，上海偉諾信息科技有限公司將其先進(jìn)的ZPAT技術(shù)深度整合于Mapping Over Ink 解決方案中。這一創(chuàng)新集成賦予用戶高度的靈活性與強大的分析能力，使其能夠通過一套高度可配置的流程，精確、高效地剔除晶圓上那些性能參數(shù)超出統(tǒng)計控制界限的異常芯片，從而構(gòu)筑起一道基于動態(tài)統(tǒng)計過程控制的智能質(zhì)量防線。 Mapping Inkless輸出數(shù)據(jù)可直接用于客戶交付，支持快速驗證。上海自動化Mapping Inkless解決方案

每日晨會前臨時整理良率報表，常因數(shù)據(jù)口徑不一引發(fā)爭議。YMS系統(tǒng)按預(yù)設(shè)模板自動生成日報、周報、月報，內(nèi)容涵蓋良率趨勢、區(qū)域缺陷分布、WAT/CP/FT關(guān)聯(lián)分析等關(guān)鍵指標(biāo)，并支持一鍵導(dǎo)出為PPT、Excel或PDF格式。生產(chǎn)主管可用PPT版直接匯報，質(zhì)量工程師調(diào)取Excel原始數(shù)據(jù)深入挖掘，客戶審計則接收標(biāo)準(zhǔn)化PDF文檔。自動化流程消除手工匯總誤差，確保全公司使用同一套可靠數(shù)據(jù)。報告生成時間從數(shù)小時壓縮至分鐘級，大幅提升跨部門協(xié)同效率。上海偉諾信息科技有限公司通過靈活報表工具，讓數(shù)據(jù)真正服務(wù)于決策閉環(huán)。上海晶圓MappingOverInk處理服務(wù)商上海偉諾信息科技mapping去邊功能，采用靈活配置的方式幫助用戶剔除Mapping邊緣潛在質(zhì)量風(fēng)險芯片。

良率管理服務(wù)的價值體現(xiàn)在全生命周期的技術(shù)陪伴與問題解決能力。YMS系統(tǒng)不僅提供數(shù)據(jù)采集、清洗、分析與可視化的一體化平臺，更通過售前技術(shù)咨詢、售中合理化方案定制與售后標(biāo)準(zhǔn)化服務(wù)，確保系統(tǒng)與客戶實際流程深度契合。當(dāng)客戶接入ETS88、STS8107、Chroma等設(shè)備后，系統(tǒng)自動處理其輸出的stdf、xls、spd、jdf等格式數(shù)據(jù)，完成異常檢測與結(jié)構(gòu)化存儲。管理者可通過圖表直觀掌握良率趨勢、區(qū)域缺陷分布及WAT/CP/FT參數(shù)關(guān)聯(lián)性，快速制定改進(jìn)措施。SYL與SBL的自動計算與閾值監(jiān)控，進(jìn)一步提升過程穩(wěn)定性。靈活的報表工具支持多格式導(dǎo)出，打通從車間到?jīng)Q策層的信息通道。上海偉諾信息科技有限公司以完善的服務(wù)體系支撐YMS落地，持續(xù)助力半導(dǎo)體企業(yè)邁向高質(zhì)量發(fā)展。

晶圓制造環(huán)節(jié)的良率波動直接影響整體產(chǎn)出效率，YMS系統(tǒng)通過全流程數(shù)據(jù)治理提供有力支撐。系統(tǒng)自動采集并解析來自主流測試設(shè)備的多源異構(gòu)數(shù)據(jù)，建立標(biāo)準(zhǔn)化數(shù)據(jù)庫，實現(xiàn)對晶圓批次、區(qū)域乃至單點良率的精細(xì)化監(jiān)控。結(jié)合WAT、CP、FT等關(guān)鍵測試數(shù)據(jù)的變化趨勢，系統(tǒng)可快速鎖定影響良率的關(guān)鍵因素，指導(dǎo)工藝參數(shù)調(diào)優(yōu)。圖表化界面直觀展示良率熱力圖、趨勢曲線等關(guān)鍵指標(biāo)，輔助工程師高效決策。同時，系統(tǒng)支持按模板生成周期性報告，并導(dǎo)出為常用辦公格式，滿足生產(chǎn)與管理雙重需求。上海偉諾信息科技有限公司以打造國產(chǎn)半導(dǎo)體軟件生態(tài)為使命，其YMS產(chǎn)品正持續(xù)助力制造企業(yè)邁向高質(zhì)量、高效率的發(fā)展新階段。GDBC算法識別的聚類區(qū)域常指向設(shè)備或掩模問題，反饋工藝優(yōu)化方向。

在晶圓測試（CP）過程中，ProbeMapping（探針測試圖譜）作為記錄每一顆芯片測試結(jié)果的重要載體，其數(shù)據(jù)完整性直接決定了良率分析的準(zhǔn)確性與生產(chǎn)流程的可追溯性。然而在實際量產(chǎn)環(huán)境中，因硬件通信異常、軟件系統(tǒng)故障、產(chǎn)線突然斷電或人為操作失誤等多種意外情況，Mapping數(shù)據(jù)丟失、損壞或格式不兼容的問題時有發(fā)生。這類數(shù)據(jù)異常不僅會導(dǎo)致當(dāng)批晶圓的測試結(jié)果無法被正確解析，更會中斷生產(chǎn)信息鏈，使后續(xù)的封裝揀選、質(zhì)量追溯與制程優(yōu)化喪失依據(jù)，對整體產(chǎn)品良率與制程管控構(gòu)成嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。

針對這一行業(yè)共性難題，上海偉諾信息科技有限公司從實際測試場景出發(fā)，開發(fā)出一套高效、可靠的Mapping格式轉(zhuǎn)換解決方案，致力于從根本上保障數(shù)據(jù)流的無縫銜接。該功能支持將CP測試系統(tǒng)生成的原始Mapping數(shù)據(jù)，智能、精確地轉(zhuǎn)換為各類主流探針臺可直接識別并加載的格式，兼容包括TSK、UF2000、UF3000、P8、TEL等在內(nèi)的多種設(shè)備類型。通過這一轉(zhuǎn)換流程，用戶不僅能夠有效恢復(fù)因格式問題而“失效”的測試數(shù)據(jù)，避免晶圓重復(fù)測試帶來的成本與時間損失，更能構(gòu)建起一條從測試到封裝的高可靠性數(shù)據(jù)通道，從而提升整體生產(chǎn)流程的連貫性與自動化水平，為良率提升與工藝優(yōu)化提供堅實的數(shù)據(jù)基石。 UPLY處理針對特定層間關(guān)聯(lián)缺陷，通過垂直面算法判定單顆Die失效概率。上海晶圓MappingOverInk處理

Mapping Over Ink處理系統(tǒng)持續(xù)優(yōu)化以適配先進(jìn)制程需求，保持技術(shù)優(yōu)勢。上海自動化Mapping Inkless解決方案

良率異常若依賴人工逐項排查，常需跨多個系統(tǒng)比對數(shù)據(jù)，耗時且易遺漏關(guān)鍵線索。YMS自動匯聚來自Chroma、STS8200、ASL1000等平臺的測試結(jié)果，構(gòu)建統(tǒng)一數(shù)據(jù)庫，并以熱力圖、趨勢曲線等形式直觀展示缺陷分布與良率波動。當(dāng)某批次FT良率下降時，工程師可快速調(diào)取對應(yīng)CP參數(shù)與晶圓區(qū)域熱圖，判斷是否為特定象限的打線偏移所致。WAT參數(shù)的同步關(guān)聯(lián)更可追溯至前道工藝漂移。這種“一站式”可視化分析，使根因定位從數(shù)天縮短至數(shù)小時內(nèi)，大幅減少試錯成本。上海偉諾信息科技有限公司依托多維數(shù)據(jù)整合能力，讓YMS成為快速響應(yīng)質(zhì)量問題的關(guān)鍵工具。上海自動化Mapping Inkless解決方案

上海偉諾信息科技有限公司在同行業(yè)領(lǐng)域中，一直處在一個不斷銳意進(jìn)取，不斷制造創(chuàng)新的市場高度，多年以來致力于發(fā)展富有創(chuàng)新價值理念的產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)，在上海市等地區(qū)的數(shù)碼、電腦中始終保持良好的商業(yè)**，成績讓我們喜悅，但不會讓我們止步，殘酷的市場磨煉了我們堅強不屈的意志，和諧溫馨的工作環(huán)境，富有營養(yǎng)的公司土壤滋養(yǎng)著我們不斷開拓創(chuàng)新，勇于進(jìn)取的無限潛力，攜手大家一起走向共同輝煌的未來，回首過去，我們不會因為取得了一點點成績而沾沾自喜，相反的是面對競爭越來越激烈的市場氛圍，我們更要明確自己的不足，做好迎接新挑戰(zhàn)的準(zhǔn)備，要不畏困難，激流勇進(jìn)，以一個更嶄新的精神面貌迎接大家，共同走向輝煌回來！