.成本失控？從源頭降低全周期損耗早期檢測不到位，后期召回成本是前期投入的10倍！維柯系統(tǒng)幫你“省”在關(guān)鍵點(diǎn)：提前優(yōu)化基材選擇、工藝參數(shù)，減少批量生產(chǎn)缺陷；模塊化設(shè)計，通道故障*換單模塊，維護(hù)成本降30%；智能聯(lián)網(wǎng)遠(yuǎn)程監(jiān)測，無需專人值守，人力成本再省一筆。為什么選維柯？看硬實(shí)力說話！?技術(shù)**國內(nèi)外：比較高5KV測試電壓（國外競品不到3KV，國內(nèi)*2500V），電阻測量精度±1%（超行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)），16-256通道靈活擴(kuò)展，適配HDI、FPC、芯片封裝等全場景；?大客戶用腳投票：SGS全球?qū)嶒?yàn)室指定設(shè)備、富士康/滬士電子批量采購、清華大學(xué)深圳研究院合作研發(fā)，近10年服務(wù)超50家頭部企業(yè)；?資質(zhì)過硬有保障：廣東省****，手握多項(xiàng)軟件著作權(quán)、實(shí)用新型**，測試數(shù)據(jù)可溯源，甲方審核直接過！ 所有設(shè)備可聯(lián)網(wǎng) ， 實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)程故障診斷與維護(hù)。廣州CAF電阻測試方法

    3.溫循沖擊的“焊點(diǎn)疲勞”：RTC測試如何預(yù)判壽命汽車從-30℃的北方寒冬駛?cè)霚嘏能噹欤琍CB的焊點(diǎn)會像橡皮筋一樣反復(fù)熱脹冷縮，長期下來必然“疲勞斷裂”；航空航天設(shè)備經(jīng)歷的高低溫交變沖擊更劇烈，焊點(diǎn)失效可能直接導(dǎo)致設(shè)備癱瘓。RTC測試（溫循可靠性測試）就是給PCB做“耐力測試”：通過1000次以上的快速溫循沖擊（-55℃→125℃瞬間切換），同步監(jiān)測焊點(diǎn)的導(dǎo)通電阻變化。哪怕μΩ的微小波動，都意味著焊點(diǎn)出現(xiàn)了裂紋——這些裂紋在常規(guī)檢測中肉眼不可見，卻會在實(shí)際使用中逐漸擴(kuò)大。二、維柯系統(tǒng)：把測試技術(shù)變成企業(yè)的“質(zhì)量保鏢”搞懂了三大測試的原理，就會明白：不是所有測試設(shè)備都能精細(xì)攔截失效風(fēng)險。廣州維柯的SIR/CAF/RTC系統(tǒng)，通過技術(shù)升級讓“風(fēng)險預(yù)判”更高效、更精細(xì)。 廣州離子遷移電阻測試設(shè)備電阻測量精度達(dá) ±0.5% + 5?Ω，小分辨率 0.1?Ω，捕捉溫度循環(huán)過程中 PCB 焊點(diǎn)連接結(jié)構(gòu)的細(xì)微電阻變化。

    在可靠性檢測領(lǐng)域，數(shù)據(jù)的精細(xì)采集、**存儲與便捷分析是實(shí)驗(yàn)室**訴求。廣州維柯SIR/CAF實(shí)時監(jiān)控測試系統(tǒng)以全流程數(shù)據(jù)管理能力為突破口，構(gòu)建了“采集-存儲-分析-輸出”的閉環(huán)解決方案，為檢測結(jié)果的科學(xué)性與可追溯性提供堅(jiān)實(shí)保障。設(shè)備搭載高速實(shí)時檢測電路，不僅能精細(xì)捕捉每一個通道的阻抗變化數(shù)據(jù)，還能通過曲線實(shí)時顯示測試動態(tài)，讓檢測人員直觀掌握樣品性能變化趨勢。數(shù)據(jù)存儲采用內(nèi)云存儲模式，結(jié)合數(shù)據(jù)加密技術(shù)與操作日志全程追溯功能，確保數(shù)據(jù)**性與完整性，滿足實(shí)驗(yàn)室合規(guī)性要求。在數(shù)據(jù)輸出環(huán)節(jié)，支持圖表、Excel、TXT等多種格式導(dǎo)出，方便后期存檔、統(tǒng)計分析與報告編制，大幅提升工作效率。為應(yīng)對長時間連續(xù)測試場景，設(shè)備配備不間斷電源（UPS），可在突發(fā)斷電情況下持續(xù)工作，避免測試中斷導(dǎo)致的數(shù)據(jù)丟失。同時，設(shè)備的故障預(yù)警功能能實(shí)時監(jiān)測系統(tǒng)運(yùn)行狀態(tài)，及時發(fā)現(xiàn)異常并提示，保障檢測工作的連續(xù)性。依托這些數(shù)據(jù)管理優(yōu)勢，該設(shè)備已服務(wù)于瀚宇博德、滬利微電等電子制造企業(yè)，為其產(chǎn)品質(zhì)量管控提供了精細(xì)的數(shù)據(jù)支撐。

什么是導(dǎo)電陽極絲測試CAF導(dǎo)電陽極絲測試（Conductiveanodicfilamenttest，簡稱CAF）是電化學(xué)遷移的其中一種表現(xiàn)形式。它與表面樹狀生長的區(qū)別：1.產(chǎn)生遷移的金屬是銅，而不是鉛或者錫；2.金屬絲是從陽極往陰極生長的；3.金屬絲是由金屬鹽組成，而不是中性的金屬原子組成。焊盤中的銅金屬是金屬離子的主要來源，在陽極電化學(xué)生成，并沿著樹脂和玻璃增強(qiáng)纖維之間界面移動。隨著時代發(fā)展和技術(shù)的革新，PCB板上出現(xiàn)CAF的現(xiàn)象卻越來越嚴(yán)重，究其原因，是因?yàn)楝F(xiàn)在電子設(shè)備上的PCB板上需要焊接的電子元件越來越多，這樣也就造成了PCB板上的金屬電極之間的距離越來越短，這樣就更加容易在兩個金屬電極之間產(chǎn)生CAF現(xiàn)象早期檢測可減少批量生產(chǎn)后的召回風(fēng)險，例如某汽車電子廠商通過CAF測試優(yōu)化基材選擇后，將故障率降低60%。

    廣州維柯在SIR/CAF測試設(shè)備研發(fā)中，始終秉持“****、效率優(yōu)先”的設(shè)計理念，通過硬件防護(hù)、軟件優(yōu)化與場景適配，實(shí)現(xiàn)了檢測過程的**可靠與高效便捷的雙重目標(biāo)。**防護(hù)方面，設(shè)備搭載高速實(shí)時性檢測電路，具備**的擊穿瞬間保護(hù)功能。當(dāng)任意通道出現(xiàn)短路等異常情況時，系統(tǒng)能毫秒級斷開測試回路，有效保護(hù)操作人員人身**與設(shè)備**部件不受損壞。同時，設(shè)備整體符合實(shí)驗(yàn)室**標(biāo)準(zhǔn)，從電路設(shè)計到外殼防護(hù)均經(jīng)過多重嚴(yán)苛測試，確保長期穩(wěn)定運(yùn)行。效率提升層面，設(shè)備在測試速度與操作便捷性上實(shí)現(xiàn)雙重突破。20MS/所有通道的測試速度，遠(yuǎn)超行業(yè)平均水平，可大幅縮短批量樣品檢測周期；操作界面充分考慮實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用場景，采用人性化設(shè)計，工程師無需復(fù)雜培訓(xùn)即可快速上手。此外，設(shè)備支持多組測試模式建立，可在1個或多個環(huán)境試驗(yàn)箱中同時測試不同樣品，極大提升了實(shí)驗(yàn)室空間利用率與檢測吞吐量。憑借完善的**設(shè)計與高效的檢測能力，該設(shè)備已通過公安部產(chǎn)品認(rèn)證，獲得SGS、興欣同泰等客戶的高度認(rèn)可，成為可靠性檢測領(lǐng)域的**產(chǎn)品之一。 須狀物橋接兩極，造成瞬時短路或漏電流增加。廣州離子遷移電阻測試

電遷移（Electromigration, EM）是半導(dǎo)體器件失效的主要機(jī)理之一。廣州CAF電阻測試方法

    與進(jìn)口品牌相比，貴司SIR/CAF系統(tǒng)在技術(shù)、價格和服務(wù)上有哪些**優(yōu)勢？相較進(jìn)口品牌，我司系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)“技術(shù)平齊、成本優(yōu)化、服務(wù)升級”的綜合優(yōu)勢。技術(shù)上，**參數(shù)與進(jìn)口設(shè)備持平——測量精度達(dá)±2%（低阻區(qū)間）、測試速度20ms/通道，且**“端-邊-云”協(xié)同架構(gòu)，數(shù)據(jù)處理效率比某進(jìn)口品牌高50%；支持1-5000VDC超高壓選項(xiàng)，覆蓋進(jìn)口設(shè)備難以滿足的特殊測試需求。價格上，設(shè)備采購成本比進(jìn)口品牌低30%-50%，質(zhì)保期內(nèi)零維護(hù)成本，終身**軟件升級進(jìn)一步降低長期投入。服務(wù)上，進(jìn)口品牌平均響應(yīng)時間超72小時，而我司實(shí)現(xiàn)2小時響應(yīng)、48小時現(xiàn)場服務(wù)，全國服務(wù)點(diǎn)覆蓋密度遠(yuǎn)超進(jìn)口品牌。從實(shí)際案例看，富士康將原進(jìn)口設(shè)備替換為我司256通道系統(tǒng)后，年綜合成本降低40%，且服務(wù)滿意度從68分提升至92分。 廣州CAF電阻測試方法